电子解吸对电离真空计测量漂移的影响
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在传统电离真空计中，电子在穿过电离空间后最终会撞击到阳极表面。这种高能电子轰击会导致原本吸附在阳极金属表面的“中性粒子或离子（neutrals or ions）”被强行释放出来，即发生解吸（desorption）效应。在电学层面上，这一物理现象通过以下机制导致了测量电流的严重漂移：
产生不可预测的“虚假离子电流” 被电子轰击解吸出来的离子，会被真空计的收集极（Collector）直接捕获；而解吸出的中性粒子进入电离空间后，也极易被电子发生二次电离并最终被收集极捕获。从电学测量的角度来看，这些粒子并非来自于真空腔室环境中真正需要被测量的残余气体，而是来自于阳极表面的物理吸附物。因此，收集极测得的总电流（Ic）中被凭空混入了一股由金属表面污染或吸附分子贡献的“虚假电流”。极低气压下的“信噪比”崩溃 在极低气压的超高真空（例如 <10−5Pa）环境中，真实的待测气体分子极其稀少，因此探头电离出的代表真实压强的微弱电流信号极小。此时，由阳极解吸效应（以及伴随产生的二次电子和反射电子）额外引发的庞大离子群体，会在仪器内部形成一股极其强烈的“虚假背景干扰信号”。这股背景电流在电学上会严重掩盖真实的微弱压力信号。吸附状态的动态变化引发“严重漂移” 导致电流严重漂移的最核心原因在于：阳极表面吸附的气体量和状态是极度不稳定且不可预测的。它会随着真空计的连续运行时间、设备温度、真空腔室先前的气体暴露历史等因素发生无规律的动态变化。这种吸附物数量的随机变化，直接导致了由解吸效应产生的“虚假背景电流”也会随时间无规律波动。由于收集极无法在电学上区分哪些电流来自真实气体，哪些来自解吸干扰，最终导致真空计的灵敏度（Sensitivity）变得无法预测，读数发生严重的基准漂移。正是为了从底层物理源头上彻底切断这种电学干扰，新型 ISO 真空计才革命性地采用了“直线电子路径”设计，将电子直接导入法拉第杯（Faraday cup），绝对避免了电子撞击阳极，从而清除了解吸效应对测量电流的破坏，实现了极小分散性（<1.5%）的稳定灵敏度。
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参考资料：
1、NSK官方网站
2、NSK中国官网
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10、这种转移来的微观氟基树脂会被进一步均匀地涂敷并分布到哪里？
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